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Titre : Admittivity imaging from multi-frequency micro-electrical impedance tomography
Année : 2017
Type : article (revue avec comité de lecture)
Auteurs : H. Ammari, L. Giovangigli, L. Nguyen, J.-K. Seo
Thèmes :
Référence : Journal of Mathematical Analysis and Applications - Elsevier - vol. 449 (2) (pp 1601-1618 )